书目信息 |
| 题名： |
微电子器件可靠性
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| 作者： | 史保华 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 西安 西安电子科技大学出版社 1999 |
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| 页数： | 182页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN406 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 微电子技术-电子器件-可靠性--高等学校--教材 , 电子器件-微电子技术-可靠性--高等学校--教材 , 可靠性-电子器件-微电子技术--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-5606-0719-5 | |
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| 微电子器件可靠性/史保华等编著.-西安：西安电子科技大学出版社，1999 |
| 182页；26cm |
| 高等学校电子信息类规划教材 研究生系列教材 西安电子科技大学研究生教材建设基金资助 |
| ISBN 7-5606-0719-5：CNY13.00 |
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正题名：微电子器件可靠性
索取号：TN406/2
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