书目信息 |
| 题名： |
超大规模集成电路测试---数字,存储器和混合信号系统
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| 作者： | (美)布什内尔 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2005.8 |
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| 页数： | 510页 | |
| 开本： | 21cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN470.7 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | ||
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-121-01490-4 | |
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| 超大规模集成电路测试---数字,存储器和混合信号系统/(美)布什内尔 著.-北京：电子工业出版社，2005.8 |
| 510页；21cm |
| ISBN 7-121-01490-4：RMB58.00 |
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| 相关链接 |
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正题名：超大规模集成电路测试---数字,存储器和混合信号系统
索取号：TN470.7/1
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 117890 | S117890 | 历史工业书库（图文三楼西）/ [索取号:TN470.7/1] | 在馆 | |
| 2 | 117891 | S117891 | 历史工业书库（图文三楼西）/ [索取号:TN470.7/1] | 在馆 | |
| 3 | 117892 | S117892 | 历史工业书库（图文三楼西）/ [索取号:TN470.7/1] | 在馆 | |
| 4 | 117893 | S117893 | 历史工业书库（图文三楼西）/ [索取号:TN470.7/1] | 在馆 |